Reliability of Nanoscale Circuits and Systems (Registro nro. 13839)
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| 000 -CABECERA | |
|---|---|
| Campo de control de longitud fija | 03417nam a2200325za04500 |
| 001 - NÚMERO DE CONTROL | |
| Campo de control | 16556 |
| 008 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
| Campo de control de longitud fija | 050703s2011 xxu eng d |
| 020 ## - ISBN (INTERNATIONAL STANDARD BOOK NUMBER) | |
| ISBN | 9781441962171 99781441962171 |
| 082 ## - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY | |
| Número de clasificación Decimal | 621.3815 |
| Número de documento (Cutter) | 223 |
| 100 ## - ENCABEZAMIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL | |
| Nombre de persona | Stanisavljevic, Miloš. |
| Término relacionador | author. |
| 9 (RLIN) | 35685 |
| 245 ## - TÍTULO PROPIAMENTE DICHO | |
| Título | Reliability of Nanoscale Circuits and Systems |
| Medio físico | [electronic resource]: |
| Parte restante del título | Methodologies and Circuit Architectures / |
| Mención de responsabilidad, etc. | by Miloš Stanisavljevic, Alexandre Schmid, Yusuf Leblebici. |
| 300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
| Extensión | XXVII, 195p. 86 illus., 55 illus. in color. |
| Otros detalles físicos | online resource. |
| 505 ## - NOTA DE CONTENIDO FORMATEADA | |
| Nota de contenido con formato preestablecido | Introduction -- Reliability, Faults and Fault Models -- Nanotechnology and Nanodevices -- Fault-Tolerant Architectures and Approaches -- Reliability Evaluation Techniques -- Averaging Design Implementations -- Statistical Evaluation of Fault-Tolerance Using Proability Density Functions -- System Level Reliability Evaluation and Optimization -- Summary and Conclusions -- References. |
| 520 ## - RESUMEN, ETC. | |
| Nota de sumario, etc. | Reliability of Nanoscale Circuits and Systems: Methodologies and Circuit Architectures Milos Stanisavljevic Alexandre Schmid Yusuf Leblebici Future integrated circuits are expected to be made of emerging nanodevices and their associated interconnects, but the reliability of such components is a major threat to the design of future integrated computing systems. Reliability of Nanoscale Circuits and Systems: Methodologies and Circuit Architectures confronts that challenge. The first part discusses the state-of-the-art of the circuits and systems as well as the architectures and methodologies focusing the enhancement of the reliability of digital integrated circuits. It proposes circuit and system level solutions to overcome high defect density and presents reliability, fault models and fault tolerance. It includes an overview of nano-technologies that are considered in the fabrication of future integrated circuits and covers solutions provided in the early ages of CMOs as well as recent techniques. The second part of the text analyzes original circuit and system level solutions. It details an architecture suitable for circuit-level and gate-level redundant modules implementation and exhibiting significant immunity to permanent and random failures as well as unwanted fluctuation and the fabrication parameters. It also proposes a novel general method enabling the introduction of fault-tolerance and evaluation of the circuit and architecture reliability. And the third part proposes a new methodology that introduces reliability in existing design flows. That methodology consists of partitioning the full system to design into reliability optimal partitions and applying reliability evaluation and optimization at local and system level. |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | Engineering. |
| 9 (RLIN) | 96 |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | Engineering. |
| 9 (RLIN) | 96 |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
| 9 (RLIN) | 33761 |
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | COMPUTER, AIDED ENGINEERING (CAD, CAE) AND DESIGN |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
| 9 (RLIN) | 33757 |
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | COMPUTER AIDED DESIGN |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
| 9 (RLIN) | 33660 |
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | CIRCUITS AND SYSTEMS. |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
| 9 (RLIN) | 33673 |
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | SYSTEMS ENGINEERING |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
| 9 (RLIN) | 33582 |
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | SYSTEMS SAFETY |
| 650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
| 9 (RLIN) | 1521 |
| Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | QUALITY CONTROL, REABILITY, SAFETY AND RISK. |
| 700 ## - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL | |
| Nombre de persona | Schmid, Alexandre. |
| 9 (RLIN) | 35686 |
| 700 ## - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL | |
| Término relacionador | author. |
| 9 (RLIN) | 35687 |
| 700 ## - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL | |
| Nombre de persona | Leblebici, Yusuf. |
| 9 (RLIN) | 35688 |
| 700 ## - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL | |
| Término relacionador | author. |
| 9 (RLIN) | 35687 |
| 710 ## - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE CORPORATIVO | |
| Nombre corporativo o de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Online service) |
| 9 (RLIN) | 111 |
| 856 ## - ACCESO ELECTRÓNICO | |
| Identificador uniforme del recurso URI | <a href="http://springer.escuelaing.metaproxy.org/book/10.1007/978-1-4419-6217-1">http://springer.escuelaing.metaproxy.org/book/10.1007/978-1-4419-6217-1</a> |
| Texto del enlace | ir a documento |
| Tipo de formato electrónico | URL |
| 942 ## - ELEMENTOS KOHA | |
| Fuente de clasificación o esquema de ordenación en estanterías | |
| Koha tipo de item | DOCUMENTOS DIGITALES |
| Disponibilidad | Mostrar en OPAC | Fuente de clasificación o esquema | Tipo de Descarte | Restricciones de uso | Estado | Código de colección | Localización permanente | Localización actual | Fecha adquisición | Proveedor | Forma de Adq | Precio normal de compra | Datos del ítem (Volumen, Tomo) | Préstamos totales | Signatura completa | Código de barras | Fecha última consulta | Número de ejemplar | Propiedades de Préstamo KOHA | Programa Académico |
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Préstamo Normal | Digital | Biblioteca Jorge Álvarez Lleras | Biblioteca Jorge Álvarez Lleras | 2014-05-14 | Springer-444444025-OS1549 | Compra | 13770.00 | Ej. 1 | 621.3815 223 | D000654 | 2014-10-14 | 1 | DOCUMENTOS DIGITALES | Biblioteca |
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