MEMS and Nanotechnology, Volume 4 (Registro nro. 13995)

000 -CABECERA
Campo de control de longitud fija 04008nam a2200289za04500
001 - NÚMERO DE CONTROL
Campo de control 17370
008 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FIJA--INFORMACIÓN GENERAL
Campo de control de longitud fija 050703s2011 xxu eng d
020 ## - ISBN (INTERNATIONAL STANDARD BOOK NUMBER)
ISBN 9781461402107 99781461402107
082 ## - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY
Número de clasificación Decimal 620.5
Número de documento (Cutter) 223
245 ## - TÍTULO PROPIAMENTE DICHO
Título MEMS and Nanotechnology, Volume 4
Medio físico [electronic resource]:
Parte restante del título Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics /
Mención de responsabilidad, etc. edited by Tom Proulx.
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA
Extensión VIII, 192 p.
Otros detalles físicos online resource.
490 ## - MENCIÓN DE SERIE
Mención de serie Conference Proceedings of the Society for Experimental Mechanics Series
490 ## - MENCIÓN DE SERIE
ISSN -2191-5644
505 ## - NOTA DE CONTENIDO FORMATEADA
Nota de contenido con formato preestablecido Integrated Process Feasibility of Hard-mask for Tight Pitch Interconnects Fabrication -- Thermoelectric Effects in Current Induced Crystallization of Silicon Microstructures -- Evaluation of Resistance Measurement Techniques in Carbon Black and Carbon -- Nano-tubes Reinforced Epoxy -- A Nano-tensile Tester for Creep Studies -- The Measurement of Cyclic Creep Behavior in Copper Thin Film Using Microtensile Testing -- New Insight Into Pile-Up in Thin Film Indentation -- Measuring Substrate-independent Young's Modulus of Thin Films -- Analysis of Spherical Indentation of an Elastic Bilayer Using a Modified Perturbation Approach -- Nano-indentation Studies of Polyglactin 910 Monofilament Sutures -- Analytical Approach for the Determination of Nanomechanical Properties for Metals -- Advances in Thin Film Indentation -- Cyclic Nanoindentation Shakedown of Muscovite and its Elastic Modulus Measurement -- Assessment of Digital Holography for 3D-shape Measurement of Micro Deep Drawing Parts in Comparison to Confocal Microscopy -- Full-field Bulge Testing Using Global Digital Image Correlation -- Experimental Investigation of Deformation Mechanisms Present in Ultrafine-grained Metals -- Characterization ofá a Variation on AFIT's Tunable MEMS Cantilever Array Metamaterial -- MEMS for Real-time Infrared Imaging -- New Insights Into Enhancing Microcantilever MEMS Sensors -- A Miniature MRI-compatible Fiber-optic Force Sensor Utilizing Fabry-Perot Interferometer -- Micromechanical Structure With Stable Linear Positive and Negative Stiffness -- Terahertz Metamaterial Structures Fabricated by PolyMUMPs -- Investigations Into 1D and 2D Metamaterials at Infrared Wavelengths -- MEMS Integrated Metamaterials With Variable Resonance Operating at RF Frequencies -- Creep Measurements in Free-standing Thin Metal Film Micro-cantilever Bending -- MEMS Reliability for Space Applications by Elimination of Potential Failure Modes Through Analysis -- Analysis and Evaluation Methods Associated With the Application of Compliant Thermal Interface Materials in Multi-chip Electronic Board Assemblies -- Hierarchical Reliability Model for Life Prediction of Actively Cooled LED-based Luminaire -- Direct Determination of Interfacial Traction-separation Relations in Chip-package Systems.
520 ## - RESUMEN, ETC.
Nota de sumario, etc. MEMS and Nanotechnology represents one of eight volumes of technical papers presented at the Society for Experimental Mechanics Annual Conference & Exposition on Experimental and Applied Mechanics, held at Uncasville, Connecticut, June 13-16, 2011. The full set of proceedings also includes volumes on Dynamic Behavior of Materials, Mechanics of Biological Systems and Materials, Mechanics of Time-Dependent Materials and Processes in Conventional and Multifunctional Materials; Optical Measurements, Modeling and, Metrology; Experimental and Applied Mechanics, Thermomechanics and Infra-Red Imaging, and Engineering Applications of Residual Stress.
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada Engineering.
9 (RLIN) 96
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada Engineering.
9 (RLIN) 96
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
9 (RLIN) 34385
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada NANOTECHNOLOGY AND MICROENGINEERING
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
9 (RLIN) 33965
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada MECHATRONICS
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
9 (RLIN) 33748
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada NANOTECHNOLOGY
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA
9 (RLIN) 33748
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada NANOTECHNOLOGY
700 ## - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL
Nombre de persona Proulx, Tom.
9 (RLIN) 34269
700 ## - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL
Término relacionador editor.
9 (RLIN) 35184
710 ## - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE CORPORATIVO
Nombre corporativo o de jurisdicción como elemento de entrada SpringerLink (Online service)
9 (RLIN) 111
856 ## - ACCESO ELECTRÓNICO
Identificador uniforme del recurso URI <a href="http://springer.escuelaing.metaproxy.org/book/10.1007/978-1-4614-0210-7">http://springer.escuelaing.metaproxy.org/book/10.1007/978-1-4614-0210-7</a>
Texto del enlace ir a documento
Tipo de formato electrónico URL
942 ## - ELEMENTOS KOHA
Fuente de clasificación o esquema de ordenación en estanterías
Koha tipo de item DOCUMENTOS DIGITALES
Existencias
Disponibilidad Mostrar en OPAC Fuente de clasificación o esquema Tipo de Descarte Restricciones de uso Estado Código de colección Localización permanente Localización actual Fecha adquisición Proveedor Forma de Adq Precio normal de compra Datos del ítem (Volumen, Tomo) Préstamos totales Signatura completa Código de barras Fecha última consulta Número de ejemplar Propiedades de Préstamo KOHA Programa Académico
          Préstamo Normal Digital Biblioteca Jorge Álvarez Lleras Biblioteca Jorge Álvarez Lleras 2014-03-26 Springer-444444025-OS1549 Compra 13770.00 Ej. 1   620.5 223 D000508 2014-10-14 1 DOCUMENTOS DIGITALES Biblioteca