MEMS and Nanotechnology, Volume 4 (Registro nro. 13995)
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000 -CABECERA | |
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Campo de control de longitud fija | 04008nam a2200289za04500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
Campo de control | 17370 |
008 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
Campo de control de longitud fija | 050703s2011 xxu eng d |
020 ## - ISBN (INTERNATIONAL STANDARD BOOK NUMBER) | |
ISBN | 9781461402107 99781461402107 |
082 ## - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY | |
Número de clasificación Decimal | 620.5 |
Número de documento (Cutter) | 223 |
245 ## - TÍTULO PROPIAMENTE DICHO | |
Título | MEMS and Nanotechnology, Volume 4 |
Medio físico | [electronic resource]: |
Parte restante del título | Proceedings of the 2011 Annual Conference on Experimental and Applied Mechanics / |
Mención de responsabilidad, etc. | edited by Tom Proulx. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | VIII, 192 p. |
Otros detalles físicos | online resource. |
490 ## - MENCIÓN DE SERIE | |
Mención de serie | Conference Proceedings of the Society for Experimental Mechanics Series |
490 ## - MENCIÓN DE SERIE | |
ISSN | -2191-5644 |
505 ## - NOTA DE CONTENIDO FORMATEADA | |
Nota de contenido con formato preestablecido | Integrated Process Feasibility of Hard-mask for Tight Pitch Interconnects Fabrication -- Thermoelectric Effects in Current Induced Crystallization of Silicon Microstructures -- Evaluation of Resistance Measurement Techniques in Carbon Black and Carbon -- Nano-tubes Reinforced Epoxy -- A Nano-tensile Tester for Creep Studies -- The Measurement of Cyclic Creep Behavior in Copper Thin Film Using Microtensile Testing -- New Insight Into Pile-Up in Thin Film Indentation -- Measuring Substrate-independent Young's Modulus of Thin Films -- Analysis of Spherical Indentation of an Elastic Bilayer Using a Modified Perturbation Approach -- Nano-indentation Studies of Polyglactin 910 Monofilament Sutures -- Analytical Approach for the Determination of Nanomechanical Properties for Metals -- Advances in Thin Film Indentation -- Cyclic Nanoindentation Shakedown of Muscovite and its Elastic Modulus Measurement -- Assessment of Digital Holography for 3D-shape Measurement of Micro Deep Drawing Parts in Comparison to Confocal Microscopy -- Full-field Bulge Testing Using Global Digital Image Correlation -- Experimental Investigation of Deformation Mechanisms Present in Ultrafine-grained Metals -- Characterization ofá a Variation on AFIT's Tunable MEMS Cantilever Array Metamaterial -- MEMS for Real-time Infrared Imaging -- New Insights Into Enhancing Microcantilever MEMS Sensors -- A Miniature MRI-compatible Fiber-optic Force Sensor Utilizing Fabry-Perot Interferometer -- Micromechanical Structure With Stable Linear Positive and Negative Stiffness -- Terahertz Metamaterial Structures Fabricated by PolyMUMPs -- Investigations Into 1D and 2D Metamaterials at Infrared Wavelengths -- MEMS Integrated Metamaterials With Variable Resonance Operating at RF Frequencies -- Creep Measurements in Free-standing Thin Metal Film Micro-cantilever Bending -- MEMS Reliability for Space Applications by Elimination of Potential Failure Modes Through Analysis -- Analysis and Evaluation Methods Associated With the Application of Compliant Thermal Interface Materials in Multi-chip Electronic Board Assemblies -- Hierarchical Reliability Model for Life Prediction of Actively Cooled LED-based Luminaire -- Direct Determination of Interfacial Traction-separation Relations in Chip-package Systems. |
520 ## - RESUMEN, ETC. | |
Nota de sumario, etc. | MEMS and Nanotechnology represents one of eight volumes of technical papers presented at the Society for Experimental Mechanics Annual Conference & Exposition on Experimental and Applied Mechanics, held at Uncasville, Connecticut, June 13-16, 2011. The full set of proceedings also includes volumes on Dynamic Behavior of Materials, Mechanics of Biological Systems and Materials, Mechanics of Time-Dependent Materials and Processes in Conventional and Multifunctional Materials; Optical Measurements, Modeling and, Metrology; Experimental and Applied Mechanics, Thermomechanics and Infra-Red Imaging, and Engineering Applications of Residual Stress. |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | Engineering. |
9 (RLIN) | 96 |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | Engineering. |
9 (RLIN) | 96 |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
9 (RLIN) | 34385 |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | NANOTECHNOLOGY AND MICROENGINEERING |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
9 (RLIN) | 33965 |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | MECHATRONICS |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
9 (RLIN) | 33748 |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | NANOTECHNOLOGY |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
9 (RLIN) | 33748 |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | NANOTECHNOLOGY |
700 ## - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL | |
Nombre de persona | Proulx, Tom. |
9 (RLIN) | 34269 |
700 ## - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE PERSONAL | |
Término relacionador | editor. |
9 (RLIN) | 35184 |
710 ## - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE CORPORATIVO | |
Nombre corporativo o de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Online service) |
9 (RLIN) | 111 |
856 ## - ACCESO ELECTRÓNICO | |
Identificador uniforme del recurso URI | <a href="http://springer.escuelaing.metaproxy.org/book/10.1007/978-1-4614-0210-7">http://springer.escuelaing.metaproxy.org/book/10.1007/978-1-4614-0210-7</a> |
Texto del enlace | ir a documento |
Tipo de formato electrónico | URL |
942 ## - ELEMENTOS KOHA | |
Fuente de clasificación o esquema de ordenación en estanterías | |
Koha tipo de item | DOCUMENTOS DIGITALES |
Disponibilidad | Mostrar en OPAC | Fuente de clasificación o esquema | Tipo de Descarte | Restricciones de uso | Estado | Código de colección | Localización permanente | Localización actual | Fecha adquisición | Proveedor | Forma de Adq | Precio normal de compra | Datos del ítem (Volumen, Tomo) | Préstamos totales | Signatura completa | Código de barras | Fecha última consulta | Número de ejemplar | Propiedades de Préstamo KOHA | Programa Académico |
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Préstamo Normal | Digital | Biblioteca Jorge Álvarez Lleras | Biblioteca Jorge Álvarez Lleras | 2014-03-26 | Springer-444444025-OS1549 | Compra | 13770.00 | Ej. 1 | 620.5 223 | D000508 | 2014-10-14 | 1 | DOCUMENTOS DIGITALES | Biblioteca |