Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design (Registro nro. 14007)
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000 -CABECERA | |
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Campo de control de longitud fija | 02392nam a2200325za04500 |
001 - NÚMERO DE CONTROL | |
Campo de control | 17382 |
008 - CAMPO FIJO DE DESCRIPCIÓN FIJA--INFORMACIÓN GENERAL | |
Campo de control de longitud fija | 050703s2011 xxu eng d |
020 ## - ISBN (INTERNATIONAL STANDARD BOOK NUMBER) | |
ISBN | 9781461404453 99781461404453 |
082 ## - NÚMERO DE LA CLASIFICACIÓN DECIMAL DEWEY | |
Número de clasificación Decimal | 621.3815 |
Número de documento (Cutter) | 223 |
100 ## - ENCABEZAMIENTO PRINCIPAL--NOMBRE PERSONAL | |
Nombre de persona | Cao, Yu. |
Término relacionador | author. |
9 (RLIN) | 35606 |
245 ## - TÍTULO PROPIAMENTE DICHO | |
Título | Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design |
Medio físico | [electronic resource] / |
Mención de responsabilidad, etc. | by Yu Cao. |
300 ## - DESCRIPCIÓN FÍSICA | |
Extensión | XV, 173p. 128 illus. |
Otros detalles físicos | online resource. |
490 ## - MENCIÓN DE SERIE | |
Mención de serie | Integrated Circuits and Systems |
490 ## - MENCIÓN DE SERIE | |
ISSN | -1558-9412 |
505 ## - NOTA DE CONTENIDO FORMATEADA | |
Nota de contenido con formato preestablecido | 1. Introduction -- 2. Predictive Technology Model of Conventional CMOS Devices -- 3. Predictive Technology Model of Enhanced CMOS Devices -- 4. Statistical Extraction and Modeling of CMOS Variability -- 5. Modeling of Temporal Reliability Degradation -- 6. Modeling of Interconnect Parasitics -- 7. Design Benchmark with Predictive Technology Model -- 8. Predictive Process Design Kits -- 9. Predictive Modeling of Carbon Nanotube Devices -- 10. Predictive Technology Model for Future Nanoelectronic Design. |
520 ## - RESUMEN, ETC. | |
Nota de sumario, etc. | Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design explains many of the technical mysteries behind the Predictive Technology Model (PTM) that has been adopted worldwide in explorative design research. Through physical derivation and technology extrapolation, PTM is the de-factor device model used in electronic design. This work explains the systematic model development and provides a guide to robust design practice in the presence of variability and reliability issues. Having interacted with multiple leading semiconductor companies and university research teams, the author brings a state-of-the-art perspective on technology scaling to this work and shares insights gained in the practices of device modeling. |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | Engineering. |
9 (RLIN) | 96 |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | Engineering. |
9 (RLIN) | 96 |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
9 (RLIN) | 33866 |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | OPERATING SYSTEMS (COMPUTERS) |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
9 (RLIN) | 33748 |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | NANOTECHNOLOGY |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
9 (RLIN) | 33748 |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | NANOTECHNOLOGY |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
9 (RLIN) | 33664 |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | ELECTRONICS AND MICROELECTRONICS, INDTRUMENTATION |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
9 (RLIN) | 33662 |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | PERFORMANCE AND RELIABILITY |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
9 (RLIN) | 33660 |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | CIRCUITS AND SYSTEMS. |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
9 (RLIN) | 33659 |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | ELECTRONICS |
650 ## - ASIENTO SECUNDARIO DE MATERIA--TÉRMINO DE MATERIA | |
9 (RLIN) | 33673 |
Nombre de materia o nombre geográfico como elemento de entrada | SYSTEMS ENGINEERING |
710 ## - ENCABEZAMIENTO SECUNDARIO--NOMBRE CORPORATIVO | |
Nombre corporativo o de jurisdicción como elemento de entrada | SpringerLink (Online service) |
9 (RLIN) | 111 |
856 ## - ACCESO ELECTRÓNICO | |
Identificador uniforme del recurso URI | <a href="http://springer.escuelaing.metaproxy.org/book/10.1007/978-1-4614-0445-3">http://springer.escuelaing.metaproxy.org/book/10.1007/978-1-4614-0445-3</a> |
Texto del enlace | ir a documento |
Tipo de formato electrónico | URL |
942 ## - ELEMENTOS KOHA | |
Fuente de clasificación o esquema de ordenación en estanterías | |
Koha tipo de item | DOCUMENTOS DIGITALES |
Disponibilidad | Mostrar en OPAC | Fuente de clasificación o esquema | Tipo de Descarte | Restricciones de uso | Estado | Código de colección | Localización permanente | Localización actual | Fecha adquisición | Proveedor | Forma de Adq | Precio normal de compra | Datos del ítem (Volumen, Tomo) | Préstamos totales | Signatura completa | Código de barras | Fecha última consulta | Número de ejemplar | Propiedades de Préstamo KOHA | Programa Académico |
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Préstamo Normal | Digital | Biblioteca Jorge Álvarez Lleras | Biblioteca Jorge Álvarez Lleras | 2014-05-12 | Springer-444444025-OS1549 | Compra | 13770.00 | Ej. 1 | 621.3815 223 | D000628 | 2014-10-14 | 1 | DOCUMENTOS DIGITALES | Biblioteca |