Su búsqueda retornó 5 resultados.

¿No encontró lo que esperaba? Pruebe buscando sugerencias

Software Reliability Assessment with OR Applications [electronic resource] / P.K. Kapur. por

Series Springer Series in Reliability Engineering |

Tipo de material:

Texto; Formato: impreso

Detalles de publicación: springer, 2011

Recursos en línea:

ir a documento

Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Bodega (1)Signatura topográfica: 378.125 C657.

Soft Errors in Modern Electronic Systems [electronic resource]. por

Nicolaidis, Michael [editor.]

Series Frontiers in Electronic Testing | ; -41

Tipo de material:

Texto; Formato: impreso

Recursos en línea:

ir a documento

Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Jorge Álvarez Lleras (1)Signatura topográfica: 621.319 K874c 2a.ed.. Bodega (1)Signatura topográfica: 621.319 K874c 2a.ed..

Predictive Technology Model for Robust Nanoelectronic Design [electronic resource] / Yu Cao. por

Cao, Yu

Series Integrated Circuits and Systems |

Tipo de material:

Texto; Formato: impreso

Recursos en línea:

ir a documento

Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Satélite (1)Signatura topográfica: 333.31 M124e.

Trustworthy Internet [electronic resource] / Luca Salgarelli. por

Tipo de material:

Texto; Formato: impreso

Recursos en línea:

ir a documento

Disponibilidad: Ítems disponibles para préstamo: Biblioteca Jorge Álvarez Lleras (1)Signatura topográfica: 658.406 A673 2a.ed..

¿No encuentras lo que estás buscando?

Hacer una sugerencia de compra

BIBLIOTECA

Refinar su búsqueda

Disponibilidad

Autores

Colecciones

Bibliotecas depositarias

Tipos de ítem

Series

Temas

Su búsqueda retornó 5 resultados.

BIBLIOTECA

Horario

Contacto

Ubicación

BIBLIOTECA

Refinar su búsqueda

Disponibilidad

Autores

Colecciones

Bibliotecas depositarias

Tipos de ítem

Series

Temas

Su búsqueda retornó 5 resultados.

Listas públicas

BIBLIOTECA

Horario

Contacto

Ubicación